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CrystalDiffract 7 新しい機能 |
過去のバージョンの履歴 |
パターンをクリック＆ドラッグできる 4 番目のツールが追加されました。結晶パターンまたはシミュレートされた混合物の場合、パターンは上下にのみ移動できます。観察されたパターンの場合は、水平方向にも移動できます。
CrystalDiffract に独自のツールストリップが追加されました。SingleCrystal や CrystalMaker で使用されているものと同様のツールストリップで、これにより、モーダル・スクリーンツールやスクリーン・オーバーレイへのアクセスが容易になります。従来のポップオーバー・コントロールは削除されました。
ツールストリップにコマンドを移動することで、ツールバーで利用できるスペースが増えました。
Customizeシートには、次のような追加のツールバー ボタンも用意されています。
選択したパターンを追加または削除する新しいコマンドが、パターン リストの Actions メニューとメインの Pattern メニューに追加されました。
(ここで、A と B はそれぞれ最初に選択されたパターンと 2 番目に選択されたパターンの名前です。)
パターンの追加は、2 つ以上のパターンが選択されている場合に機能します。パターンの削除には、2 つのパターンを選択する必要があります。どちらの場合も、新しい観察パターンが追加され、表示されます。
古い回折データベースを、完全な C.O.D. に基づく新しいデータベースに置き換えました。このデータベースには、現在 500,000 を超える構造が含まれています (古いものに比べて 18,000 構造が追加されています)。これは完全な C.O.D. ではありません。品質基準により、一部 (約 2,300) の構造が拒否されるからです。
macOS 15 “Sequoia” で CrystalDiffract 7 を起動すると、システム生成の警告が表示され、CrystalDiffract needs to access data from other apps (CrystalDiffract は他のアプリのデータにアクセスする必要があります) と表示されます。これは、Apple が一方的に設定を変更し、ほとんどのサードパーティ開発者の共有設定を無効にしたことが原因であることが判明しました。プログラムは再度ライセンスコードの入力を要求しますが、その後は、システム生成のメッセージに煩わされることはなくなります。
カスタム回折データをロードするコマンドは、Phase ID ペインから File メニューに移動されました。これにより、選択された観測データセットを含むドキュメント ウィンドウを開かなくても、データベースをリセットできます。その後のデータベース生成では、ウィンドウ固有のシートではなく、モーダル進行状況ダイアログが使用されます。
ディスプレイインスペクタのすべてのカラーボタンがポップオーバーコントロールに置き換えられ、パレットから色をすばやく選択できるようになりました。
複数のシミュレートされたパターンを選択した場合、このコマンドにより、対応する結晶構造が同じ CrystalMaker ドキュメント ウィンドウに追加されるようになりました。
Gallery ウィンドウは、各グループのアイコンが付いた新しい外観になっています。さらに、Pattern Subtraction と Scrolling and Zooming をカバーする 2 つの新しいビデオ チュートリアルが追加されました。
Y スケール スライダーとそのテキスト フィールドには、実数値 0.001 ～ 10,000 に対応する -3 ～ +3 の対数スケールが設定されるようになりました。これにより、中央のスライダー値 (0) が実数値 +1 に対応するため、より小さなスケールの調整が容易になります。
Y スケール スライダーと混合分数スライダーは両方ともカスタム CMHorizontalScrollWheelSlider オブジェクトになり、水平スクロール ホイール (Magic Trackpad 上で 2 本指でスライド) を使用して調整できるようになりました。
このバージョンには、ソフトウェア ライセンスのマイナー アップデートと互換性の改善が含まれています。
新たに Refine インスペクターを装備し、観測された回折パターンの精緻化を初期構造を参照しておこなう「リートベルト」法を使ってスマートに実行できるようになりました。複数の位相が混合する回折パターンも各成分の重量分率を計算することで精緻化することができます。
プログラムでは精緻化をおこなうためのセットアップが自動的におこなわれ、パラメーターを順番に調整するためのスマートなストラテジーを使用する Auto Refine 機能が装備されています。
CrystalDiffract のリートベルト法による精密化は、マルチコアマシンで最大限のパフォーマンスを実現するために全くのゼロから作成された全く新しいアルゴリズムです。既存のサードパーティのコードを見栄えの良いインターフェースでラッピングしたものではありません。
CrystalMaker 社の他のソフトウェアと同様に、このプログラムには、古い Intel 系プロセッサと、最新の Apple Silicon プロセッサの両方のネイティブコードが含まれています (CrystalMaker 社調べでは、ネイティブで動作するこの種の Mac パッケージはこれだけです。他のソフトウェアでは Qt や Java 等のエミュレータが使用されています)。
このプログラムは、観測されたパターンをスキャンして、ピークの位置、面間隔 d、相対強度を特定します。
観測されたデータセットのバックグラウンドを自動検出するための手法を新たに実装しました。Simulate インスペクターの Background グループを再設計しました。
統合された構造ライブラリを追加しました (SingleCrystal 4 で装備されたものと同様) 。これにより、ユーザーは、外部からファイルを読み込むことなく、パターンのシミュレーションをこのプログラムから直接行うことができるようになります (SingleCrystal とは異なり、ユーザーは複数の構造を選択できます)。
このプログラムに包括的な位相 ID が組み込まれました。これにより、回折パターンから未知の (ただし純粋な) 位相を容易に識別できるようになります。
高角度の X 線散乱因子 (範囲：2 < sin θ / λ < 6 Å-1) については、Fox et al 1989 によるデータを使用して計算するようにしました。Fox らは、角度に依存した ln(fx) のフィッティングに４次多項式を使用します。 これらの係数は、International Tables for Crystallography (Second Edition), Volume C の Table 6.1.1.5 に示されていますが、残念ながら、Li、Mg、Si、Ni、および Zr についての結果は完全に不正確です。 したがって、He (Z=2) と Cf (Z=98) の間のすべての要素に対して独自の当てはめを用意し、その値を高角度の計算に使用するようにしました。
従来は、Mott 方程式を使用して X 線散乱因子を電子散乱振幅に変換していました。残念ながら、このアプローチは、Mott 方程式が無限に漸近するため低角度ではうまくゆきません。したがって、２つのテーブル (低角度と高角度) を起動時にロードするようにしました。
グループアイコンとモダンなタブデザインですっきりとした外観になりました。タブは、Display, Simulate (従来の “Parameters”), Refine の３つのタブになりました。
Preferences (macOS Ventura では “Settings”) パネルは、幅が広くなり、レイアウトが大幅に変更となりました。なお、Scattering Factors は別ウィンドウからここに移動した点に注意してください。